主要特性与技术指标 

基本精度

基本精度+/-0.8%

扫描参数

频率：1 MHz 至3 GHz

振荡器电平：高达1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

DC 偏置电平（选件E4991A-001）：+/- 40V 或+/- 50 mA

更多特性

Windows 风格的用户界面

内置VBA 编程功能

通过LAN 接口进行数据传输

多功能测量选件

介电/磁性材料测量（选件E4991A-002）

可靠的晶圆测量（选件E4991A-010）

温度特性测量（选件E4991A-007）

描述

E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。

它将为元器件和电路设计人员测量3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他

们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）

技术，可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。基本阻抗精度是+/-0.8%。

高Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有1 MHz到3 GHz 的扫描范围和1 mHz的分辨率。

材料评估

E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖1 MHz 至1 GHz的宽频率范围。

晶圆测量

借助E4991A-010 探针台连接套件，您可轻松地地将Agilent E4991A 连接到射频探头系统

(由Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。

温度特性评估

温度特性测试套件E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。

该选件可在- 55°C 至+ 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，

以及强大的温度漂移补偿功能。